Metalografie
Akreditované zkoušky
- Mikrostrukturní analýza
- Stanovení plošného podílu fází obrazovou analýzou
- Stanovení velikosti zrna
- Metalografické stanovení nekovových vměstků
- Mikroskopické měření tloušťky vrstvy
- Metalografické vyhodnocení struktury litin
- Čelní zkoušky prokalitelnosti oceli
- Makrostrukturní vyhodnocení strojních součástí
Metalografická laboratoř zajišťuje hodnocení mikrostruktury a makrostruktury materiálů, měření velikosti zrna (případně velikostí jiných strukturních složek), stanovování podílu fází v mikrostruktuře a rozbory vad materiálů. Stanovujeme množství nekovových vměstků v oceli, měříme hloubky tepelně a chemicko-tepelně zpracovaných vrstev ocelí a stanovujeme hloubky oduhličení oceli.
Pracovníci oddělení mají řadu zkušeností s expertizami zaměřenými na zjištění příčin defektů a havárií a s určováním chyb v technologickém procesu.
Metalografická laboratoř je akreditovanou zkušební laboratoří ČIA č. 1476:
Pracovníci oddělení metalografie:
- Ing. Pavel Podaný
- Prof. Ing. Jozef Zrník CSc.
- Ing. Martina Sosnová, Ph.D.
- RNDr. Peter Sláma
- Ing. Jaromír Dlouhý
- Ing. Pavel Hosnedl
- Ing. Petr Martínek
- Zdena Matějů
- Taťána Kollárová
Laboratoř přípravy vzorků (brusírna a leptárna)
Vybavení
- Metalografická pila Buehler Delta Abrasimet
- Metalograficka bruska - MTH Kompakt 1031 s automatickým nástavcem APX 010
- Automatická metalografická bruska Buehler Phoenix 4000
- Laboratorní digestoř Merci
 |
 |
Laboratoř světelné mikroskopie
Vybavení
- Mikroskopy Nikon Epiphot 200 (zvětšení 50x – 1000x), plně automatický motorizovaný stolek (umožňuje focení velkých oblastí o více zorných polích)
- Software pro digitální zpracování a analýzu obrazu NIS Elements 2.3 (dříve LUCIA)
- Tvrdoměr Wilson Wolpert – měření tvrdosti dle Vickerse (zatížení 0,3 – 30 kg)
 |
 |
Laboratoř řádkovací elektronové mikroskopie
Vybavení
- JEOL 6380 - řádkovací elektronový mikroskop
- Rozlišení – až 3 nm
- Zvětšení – až 70 000x
- Urychlovací napětí – 0,5kV až 30 kV
- Detektory: Sekundární elektrony (SE), zpětně odražené elektrony (BSE) a INCA detektor pro energiově disperzní analýzu (EDS) od firmy OXFORD
- JEOL 7400F - řádkovací elektronový mikroskop s autoemisní tryskou se studenou katodou (field emission gun)
- Rozlišení – až 1 nm
- Zvětšení – až 650 000x
- Urychlovací napětí – 0,1kV až 30 kV
- Detektory: 2 x Sekundární elektrony pro malé a vysoké zvětšení (SE), zpětně odražené elektrony (BSE) a INCA detektor pro energiově disperzní analýzu (EDS) od firmy OXFORD, EBSD vysokorychlostní kamera HKL NORDLYS
- JEOL Cross section CP Polisher
- iontová leštička pro přípravu vzorků pro řádkovací elektronovou mikroskopii
- možnost leštění příčných řezů - vhodné pro přípravů řezů tenkými vrstvami + substrátem
- rotační držák pro leštění ploch
 |
 |
Oba mikroskopy jsou vybaveny softwarem INCA Energy pro kvalitativní a kvantitativní bodovou, liniovou a plošnou EDS analýzu prvků.
Mikroskop JEOL 7400F je vybaven navíc EBSD softwarem HKL Channel5 od firmy OXFORD pro OIM (orientation imaging microscopy) analýzy zrn a subzrn, nízko a vysokoúhlových hranic, textury a pro krystalografickou identifikaci fází.