Řádkovací mikroskop s EBSD a EDS

Ve dnech 27. - 30. 10. byla v našich laboratořích dokončena instalace mikroskopu JEOL 7400F s EBSD kamerou a EDS analyzátorem.

EBSD vysokorychlostní kamera NORDLYS od firmy OXFORD Instruments společně s EDS analyzátorem od stejného výrobce instalované na mikroskopu s nízkoemisní katodou JEOL 7400F  významně rozšíří výzkumné aktivity naší společnosti. Pro přípravu vzorků pro tyto analýzy bude sloužit nová iontová leštička JEOL CP Polisher.

Nový americký patent pro COMTES FHT a.s.

11.12.2018

11. prosince 2018 byl přidělen COMTES FHT a.s. nový americký patent pod číslem 10,150,532 na tzv. wobble. ... více

Technologie - Výzva VIII (pro začínající podniky)

7.12.2018

Hlavním cílem VIII. Výzvy programu Technologie je podporovat zvyšování počtu realizovaných nových podnikatelských záměrů malých podniků, přispívajících rozvoji regionů a zvyšování zaměstnanosti. ... více